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LWD200-4XI倒置型金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究。并广泛应用于集成电路IC行业、电子半导体业。也可用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相的研究分析等工作。本仪器可配用摄影装置进行显微摄影。
LWD200-4XI 倒置型金相显微镜技术参数
l 物镜：
|
类别 |
放大倍数 |
数值孔径 N．A |
系统 |
工作距离 （mm） |
|
消色差物镜 |
10X |
0.25 |
干 |
7.32 |
|
半平场消色差物镜 |
40X |
0.65 |
0.66 |
|
|
消色差物镜 |
100X |
1.25 |
油 |
0.37 |
l 目镜
|
类别 |
放大倍数 |
视场直径（mm） |
|
平场目镜 |
10X |
18 |
|
12.5X |
15 |
l 摄影目镜（选购件）：1X，0.44X
l 观察方式：4XI单筒目镜
4XB双筒目镜
l 仪器总放大率及物视场
|
物镜 目镜 |
10X |
40X |
100X |
|
10X |
100X Ф1.8mm |
400X Ф0.45mm |
1000X Ф0.18mm |
|
12.5X |
125X Ф1.5mm |
500X Ф0.38mm |
1250X Ф0.15mm |
